8 (499) 964-47-00
sales@advatex.ru
Заказать обратный звонок
Открыть меню
Главная
Оборудование
Системы анализа поверхности XPS/ARPES/UPS/LEED и др.
Рентгеновские дифрактометры
Сканирующие электронные микроскопы и литография
Пробоподготовка
Системы формирования покрытий
Насосы, компоненты и комплектующие вакуумных систем
Источники излучения и детекторы
Системы позиционирования, манипуляторы и трансляторы
Квантовые компьютеры
Системы анализа площади поверхности и пористости
Газовые пикнометрические системы анализа плотности (пикнометры)
Системы анализа адсорбции газов
Новости
Контакты
Главная
Оборудование
Системы анализа площади поверхности и пористости
Системы анализа площади поверхности и пористости
EASY-V 3220 & 3210
Автоматический анализатор удельной площади поверхности и пористости методом BET
EASY-V 3440
Автоматический анализатор удельной площади поверхности и пористости методом BET
EASY-V 1220
Автоматический анализатор удельной площади поверхности и пористости методом BET
EASY-V 1440
Автоматический анализатор удельной площади поверхности и пористости методом BET
