Спектрометр определения тонкой структуры рентгеновского поглощения «Спектр-Д» представляет собой специализированный аналитический комплекс для регистрации и анализа тонкой структуры спектров рентгеновского поглощения, обеспечивающий прецизионное определение локального атомного окружения исследуемых элементов. Прибор позволяет извлекать ключевые структурно-химические параметры, включая координационные числа и геометрию координационной сферы, межатомные расстояния и длины химических связей, степень окисления и валентное состояние атомов, а также характеризовать микронапряжения второго рода в кристаллической решетке.
Возможности:
Уникальность методики заключается в ее элементной избирательности и чувствительности к локальному порядку, что делает спектрометр востребованным инструментом не только для исследования новых перспективных функциональных материалов, но и для междисциплинарных применений в экологическом мониторинге, фармацевтическом анализе и биологических исследованиях.
Характеристики:
|
Энергетический диапазон |
4,5–18 кэВ (Mo) ; 4,5–20 кэВ (Ag) ; 4,5–22 кэВ (Pd) ; 4,5–50 кэВ (рентгеновский |
|
Энергетическое разрешение |
≤0,5–1,5 эВ |
|
Воспроизводимость |
≤30 мэВ (дрейф энергетической калибровки) |
|
Источник рентгеновского |
Поддержка различных материалов анода. Напряжение до 60 кВ, ток до 40 мА; мощность ≥ 2,2 кВт |
|
Монохроматор |
Монокристаллы Si/Ge |
|
Диапазон углов Брэгга |
55°–85° |
|
Детектор |
Высокоточный кремниевый дрейфовый детектор (SDD – Silicon Drift Detector) |
|
Держатель образцов |
10-позиционный револьверный автосменщик образцов |